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電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）采用抗基體光譜干擾羅蘭圓光學系統(tǒng)和科研級CMOS檢測器，實現(xiàn)全譜采集，穩(wěn)定性好、檢測限低、快速分析、運行成本低。
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀可選配激光剝蝕固體進樣系統(tǒng)，極具特色的低成本LA-ICP光譜儀器。
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電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）采用抗基體光譜干擾羅蘭圓光學系統(tǒng)和科研級CMOS檢測器，實現(xiàn)全譜采集，穩(wěn)定性好、檢測限低、快速分析、運行成本低。
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀可選配激光剝蝕固體進樣系統(tǒng)，極具特色的低成本LA-ICP光譜儀器。